LC 100系列*对式直线光栅尺直接提供*对位置值,测量前无需回*。同时还提供增量信号。它们与LS 100系列增量式直线光栅尺的安装尺寸相同,机械结构也相同。由于LC100和LS100系列直线光栅尺的精度高和可定义的温度特性,*适用于NC数控机床应用。
T*e
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测量方法
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精度等级
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*对位置值
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测量长度
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LC 182
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*对位置
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± 5 μm|± 3 μm
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EnDat 2.1
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140 mm4240mm
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LC 183
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*对位置
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± 3 μm
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EnDat 2.2
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140 mm4240mm
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LC 1*
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*对位置
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± 5 μm|± 3 μm
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串行接口 Fanuc 01
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140 mm4240mm
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LC 193F
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*对位置
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± 5 μm|± 3 μm
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串行接口Fanuc 02
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140 mm4240mm
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LC 192M
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*对位置
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± 5 μm|± 3 μm
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三菱*串行接口
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140 mm4240mm
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T*e
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测量方法
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信号周期
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精度等级
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增量信号
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测量长度(mm)
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LS 177 单场扫描
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增量式
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
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TTL x 5 or x 10
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140至3040
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LS177C单场扫描
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增量式距离编码
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
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TTL x 5 or x 10
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140 至3040
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|
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LS 176
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增量式
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
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TTL
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140 至3040
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LS 176C
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增量式距离编码
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20μm
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±5μm | ±3μm
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TTL
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140 至3040
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LS 187
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增量式
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
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1 Vpp
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140 至3040
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LS 187C
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增量式距离编码
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
|
1 Vpp
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140 至3040
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LS186 / LS186C
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增量式距离编码
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20μm
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± 5 μm|± 3 μm
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TTL / 1 Vpp
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140 至3040
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LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此,*适用于很高重复精度的应用
T*e
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测量方法
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增量信号
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精度等级
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信号周期
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参考点
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测量长度(mm)
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LF 183
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增量式
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1 VSS
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± 2 μm ± 3 μm
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4 μm
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每50 mm可用磁条选择
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140至3040
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LF 183C
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增量式
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1 VSS
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± 2 μm ± 3 μm
|
4 μm
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距离编码
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140至3040
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大测量长度
LB系列增量式光栅尺的测量长度可达30米。其测量基准为AURODUR光刻工艺制造的钢带光栅尺。在光栅尺外壳安装好之后,将钢带光栅尺穿入尺座中并进行预紧并将两端固定在机床铸件上。
LC 400系列*对式直线光栅尺直接提供*对位置值,测量前无需回*。同时还提供增量信号。同LS 400系列增量式直线光栅尺一样,它精度高并具有可定义的温度特性,*适用于NC数控机床。
T*e
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测量方法
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增量信号
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信号周期
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精度等级
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*对位置值
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分辨率
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测量长度
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LC 493F
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*对式
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-
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-
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± 3μm ± 5μm
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Serial Interface Fanuc 02
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0,01 μm 0,05 μm
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70至 2040
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LC 493M
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*对式
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-
|
-
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± 3μm ± 5μm
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High Speed Serial Interface
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0,01 μm 0,05 μm
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70至 2040
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T*e
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测量方法
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增量信号
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信号周期
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精度等级
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参考点
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测量长度
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L S487
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增量式
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1 VPP
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20 μm
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± 3μm ± 2μm
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一个或带距离编码
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50至 1220
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LS477
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增量式
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TTL
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4μm/2μm
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± 3μm ± 2μm
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一个或带距离编码
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70至2040
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LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此,*适用于很高重复精度的应用。
T*e
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测量方法
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增量信号
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信号周期
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精度等级
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参考点
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测量长度
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L F481
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增量式
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1 VPP
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4 μm
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± 3μm ± 2μm
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一个或带距离编码
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50至 1220
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LS600 LS300系列增量式直线光栅尺用于简单定位应用,例如手动操作机床。
T*e
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测量方法
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增量信号
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信号周期
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精度等级
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参考点
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测量长度
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L S388C
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增量式
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1 VPP
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20 μm
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± 3μm ± 2μm
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一个或带距离编码
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70至 1240
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L S328C
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增量式
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TTL
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20 μm
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± 10μm
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距离编码
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70至 1240
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